International Electrotechnical Commission
Glossary

EN device under test
DUT  
CPV module(s), array(s), assembly/assemblies or power plant(s) the procedure described in this International Standard is applied to
FR dispositif en essai
DUT  
modules, champs, ensembles ou centrales photovoltaïques à concentration auxquels s'applique la procédure décrite dans la présente Norme internationale

Note 1 à l'article: L’abréviation «DUT» est dérivée du terme anglais développé correspondant «Device Under Test».

TC/SC:82Terms     Info     Publications
Published in:IEC 62670-2, ed. 1.0 (2015-05) Terms     Info
Reference number:3.12

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